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Prüfverfahren für Elektromaterialien, Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen und Baugruppen - Teil 3-720: Prüfverfahren für Verbindungsstrukturen (Leiterplatten) - Prüfverfahren für Übertragungsverluste bei Hochfrequenz-Mehrschichtleiterplatten

EMV-IC-Modellierung - Teil 4-1: Verwendung des ICIM-CI-Modells zur Vorhersage der IC-Störfestigkeit in einer Leiterplatte

Prüfverfahren für Elektromaterialien, Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen und Baugruppen - Teil 3-302: Computertomographisches Verfahren (CT) zur Detektion von Metallisierungsfehlern in unbestückten Leiterplatten (IEC 61189-3-302:2025); Deutsche Fassung EN IEC 61189-3-302:2025

Niederspannungsschaltgeräte - Teil 7-4: Hilfseinrichtungen - Leiterplatten-Anschlussklemmen für Kupferleiter

Emissionen - Dioxine und PCB

Emissionen aus stationären Quellen - Bestimmung der Massenkonzentration von PCDD/PCDF und dioxinähnlichen PCB - Teil 5: Langzeitprobenahme von PCDD/PCDF/PCB; Deutsche und Englische Fassung prEN 1948-5:2026

Emissionen aus stationären Quellen - Bestimmung der Massenkonzentration von PCDD/PCDF und dioxinähnlichen PCB - Teil 5: Langzeitprobenahme von PCDD/PCDF/PCB; Deutsche und Englische Fassung prEN 1948-5:2026

Ein Verfahren zur Bewertung der Haftung von Mikroschaltungen auf PCB (Printed Circuit Board) durch Kratztest

Ermöglichung von Praktiken der Kreislaufwirtschaft: Reparatur und Recycling von PCBAs

Isolierflüssigkeiten - Verunreinigung durch polychlorierte Biphenyle (PCB) - Verfahren zur Bestimmung mittels Kapillar-Gaschromatographie