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DIN EN IEC 61189-3-303
Prüfverfahren für Elektromaterialien, Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen und Baugruppen - Teil 3-303: Prüfverfahren für Verbindungsstrukturen (Leiterplatten) - Ätzfaktormessung für Leiterbahnen auf Leiterplatten
ISO/CD 24903
Mikroskope - Schnittstelle Typ Cm
ISO/FDIS 25387
Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Verfahren zur Bestimmung der Punktauflösung eines hochauflösenden Transmissionselektronenmikroskops
ISO/TC 201/SC 9/WG 4
Anwendungsorientierte dimensionelle Kalibrierungen von Rastersondenmikroskopen
prEN ISO 21363 rev
Nanotechnologien - Messungen von Partikelgrößen- und Partikelformverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
DIN EN ISO 21363 rev
Nanotechnologien - Messungen von Partikelgrößen- und Partikelformverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
DIN EN ISO 19818-1
Augen- und Gesichtsschutz - Schutz vor Laserstrahlung - Teil 1: Anforderungen und Prüfverfahren (ISO 19818-1:2021); Deutsche Fassung EN ISO 19818-1:2021
