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DIN SPEC 52407
Nanotechnologien - Methoden zur Präparation und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie im Transmissionsmodus (TSEM)
Ausgabe
2015-03
DIN EN ISO 9220
Metallische Überzüge - Messung der Schichtdicke - Verfahren mit Rasterelektronenmikroskop (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
Ausgabe
2022-05
DIN ISO 15632
Mikrobereichsanalyse - Ausgewählte instrumentelle Performanceparameter zur Spezifizierung und Überprüfung engergiedispersiver Röntgenspektrometer (EDS) für die Anwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) oder einem Elektronenstrahlmikroanalysator (ESMA) (ISO 15632:2021)
Ausgabe
2022-09
DIN EN 1071-10
Hochleistungskeramik - Verfahren zur Prüfung keramischer Schichten - Teil 10: Bestimmung der Schichtdicke mittels Querschliff; Deutsche Fassung EN 1071-10:2009
Ausgabe
2009-10
DIN ISO 13067
Mikrobereichsanalyse - Elektronenrückstreubeugung - Messung der mittleren Korngröße (ISO 13067:2020)
Ausgabe
2021-08
DIN EN ISO 17131
Leder - Identifizierung von Leder per Mikroskopie (ISO 17131:2020); Deutsche Fassung EN ISO 17131:2020
Ausgabe
2020-07
DIN EN ISO 19749
Nanotechnologien - Messung der Partikelgrößenverteilung und Partikelformverteilung mit Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021); Deutsche Fassung EN ISO 19749:2023
Ausgabe
2023-07
DIN EN ISO 17751-2
Textilien - Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle, anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen - Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Verfahren (ISO 17751-2:2023); Deutsche Fassung EN ISO 17751-2:2023
Ausgabe
2023-12
DIN EN ISO 20705
Textilien - Quantitative mikroskopische Analyse - Allgemeine Prüfungsgrundsätze (ISO 20705:2019); Deutsche Fassung EN ISO 20705:2020
Ausgabe
2020-05
DIN ISO 16000-27
Innenraumluftverunreinigungen - Teil 27: Bestimmung von abgelagerten Faserstäuben auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode) (ISO 16000-27:2014)
Ausgabe
2014-11
