Nanotechnologien — Verfahren zur Probenvorbereitung für Größen- und Formmessungen von Partikeln mittels Elektronenmikroskopie und Rasterkraftmikroskopie
Kurzreferat
Dieses Dokument gibt Leitlinien für eine verlässliche und reproduzierbare Probenvorbereitung zur Größen- und Formbestimmung von Partikeln mittels Elektronenmikroskopie (EM) oder Rasterkraftmikroskopie (AFM, en: atomic force microscopy). Es ist anwendbar, jedoch nicht ausschließlich, auf Nanopartikel in Proben aus Suspensionen, Aerosolen oder Pulvern. Die beschriebenen Verfahren umfassen die Präparation auf ebenen Substraten, Gittern oder durch Planarisierung, um eine quantitative Analyse auf Basis von EM- oder AFM-Aufnahmen zu ermöglichen. Zur Sicherstellung der Konsistenz und Vergleichbarkeit der Ergebnisse werden zudem Kriterien für die Auswahl der am besten geeigneten Präparationstechniken sowie für die Festlegung zentraler Verfahrensparameter bereitgestellt. Darüber hinaus werden standardisierte Anforderungen an die Berichterstattung dargelegt, um die Reproduzierbarkeit zu erhöhen und eine breite Anwendbarkeit dieser Methoden in unterschiedlichen Laboren zu unterstützen.
Beginn
2025-09-30
WI
00352076
Geplante Dokumentnummer
DIN CEN ISO/TS 21551
Projektnummer
06237006
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-08-17-02 UA - Prüfverfahren
