Projekt
Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 1: Bewertungsverfahren für grundlegende Eigenschaften in Memristor-Bauelementen
Kurzreferat
Dieser Teil der IEC 6XXXX legt die Prüfverfahren zur Bewertung der grundlegenden Eigenschaften von neuromorphen Memristor-Bauelementen fest. Die Prüfverfahren in dieser internationalen Norm umfassen Initialisierung, Lesen, Formung, Potenzierung und Depression. Dieses Dokument gilt für 2-polige neuromorphe Memristor-Bauelemente ohne Einschränkungen hinsichtlich der Bauelementetechnologie und -größe.
Beginn
2025-06-27
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 63550-1
Projektnummer
02233217
