Kurzreferat

In diesem Dokument wird ein Verfahren zur Messung der Störfestigkeit einer integrierten Schaltung (IC) gegen hochfrequente gestrahlte elektromagnetische Störgrößen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 3 GHz festgelegt.

Beginn

2024-07-12

Geplante Dokumentnummer

DIN EN IEC 62132-8

Projektnummer

02232443

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Ersatzvermerk

Vorgesehen als Ersatz für DIN EN 62132-8 (VDE 0847-22-8):2013-03

Norm-Entwurf

Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 8: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - IC-Streifenleiterverfahren (IEC 47A/1182/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 62132-8:2025
2026-07
Kaufen bei DIN Media

Vorgänger-Dokument(e)

Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 8: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - IC-Streifenleiterverfahren (IEC 62132-8:2012); Deutsche Fassung EN 62132-8:2012
2013-03

Kaufen bei DIN Media