Kurzreferat

In diesem Dokument wird ein Verfahren zur Messung der Störfestigkeit einer integrierten Schaltung (IC) gegen hochfrequente gestrahlte elektromagnetische Störgrößen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 3 GHz festgelegt.

Beginn

2024-07-12

Geplante Dokumentnummer

DIN EN IEC 62132-8

Projektnummer

02232443

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Norm-Entwurf

Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 8: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - IC-Streifenleiterverfahren (IEC 47A/1182/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 62132-8:2025
2026-07
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Vorgänger-Dokument(e)

Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 8: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - IC-Streifenleiterverfahren (IEC 62132-8:2012); Deutsche Fassung EN 62132-8:2012
2013-03

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