Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 8: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - IC-Streifenleiterverfahren (IEC 62132-8:2026); Deutsche Fassung EN IEC 62132-8:2026
Kurzreferat
In diesem Dokument wird ein Verfahren zur Messung der Störfestigkeit einer integrierten Schaltung (IC) gegen hochfrequente gestrahlte elektromagnetische Störgrößen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 3 GHz festgelegt.
Beginn
2024-07-12
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 62132-8
Projektnummer
02232443
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
Ersatzvermerk
Vorgesehen als Ersatz für DIN EN 62132-8 (VDE 0847-22-8):2013-03
Norm-Entwurf
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 8: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - IC-Streifenleiterverfahren (IEC 47A/1182/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 62132-8:2025
2026-07
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