DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 62132-8
; VDE 0847-22-8:2026-07
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 8: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - IC-Streifenleiterverfahren (IEC 47A/1182/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 62132-8:2025
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline method (IEC 47A/1182/CDV:2025); German and English version prEN IEC 62132-8:2025
Einführungsbeitrag
Dieser Teil von IEC 62132 legt ein Verfahren zur Messung der Störfestigkeit einer integrierten Schaltung (englisch: integrated circuit, IC) gegen hochfrequente, gestrahlte, elektromagnetische Störgrößen unter Verwendung einer IC-Streifenleitung fest. Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich des Dokuments. Durch seine Anwendung erhöht das Dokument die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender, gibt Prüflaboratorien und Herstellern definierte Informationen für die Prüfung und erhöht die Kompatibilität der Produkte zwischen den Herstellern.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN 62132-8 (VDE 0847-22-8):2013-03 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Alle Abschnitte wurden unter Berücksichtigung des gesamten Inhalts der vorherigen Ausgabe entsprechend den aktuellen Anforderungen an Form und Gestaltung überarbeitet.
