Projekt

Ellipsometry - Part 3: Transparent single layer model

Beginn

2024-01-26

Geplante Dokumentnummer

ISO/AWI 23131-3

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-01-61 AA - Mess- und Prüfverfahren für Schichten und Schichtsysteme  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 107/JWG 4 - Gemeinsame Arbeitsgruppe ISO/TC 107 - ISO/TC 35/SC 9 WG: Methoden der Schichtdickenmessung für Überzüge, Lacke und Anstrichstoffe  

Ihr Kontakt

Clemens Judersleben

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2210
Fax: +49 30 2601-42210

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