Norm
[AKTUELL]
NF C96-022-33
; NF EN 60749-33:2005-12-01
NF C96-022-33
; NF EN 60749-33:2005-12-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 33: beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: accelerated moisture resistance - unbiased autoclave
