Norm [AKTUELL]

UNE-EN 60749-14
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)

Ausgabe 2004-06-11
Originalsprache Spanisch
Preis ab 64,20 €
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