Norm [AKTUELL]

UNE-EN 60749-31
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)

Ausgabe 2004-03-18
Originalsprache Spanisch
Preis ab 30,00 €
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