Norm-Entwurf

PR NF C86-378-6 ; PR NF EN IEC 63378-6
Thermal standardization on semiconductor packages - Part 6: Thermal resistance and capacitance model for transient temperature prediction at junction and measurement points

Titel (englisch)

Thermal standardization on semiconductor packages - Part 6: Thermal resistance and capacitance model for transient temperature prediction at junction and measurement points

Originalsprache Englisch , Französisch
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