Norm [AKTUELL]

NF C90-385 ; NF EN IEC 63185:2025-05-02
Messung der komplexen Dielektrizitätskonstante für verlustarme dielektrische Substrate nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren

Titel (englisch)

Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method

Ausgabe 2025-05-02
Originalsprache Französisch
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