Norm [AKTUELL]

SN EN IEC 60749-28
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

Ausgabe 2022-04
Originalsprache Deutsch
Preis ab 29,00 €
Kaufen bei DIN Media
Inhaltsverzeichnis