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Norm [AKTUELL]

ISO 23729
Chemische Oberflächenanalyse - Rasterkraftmikroskopie - Leitfaden für Wiederherstellungsverfahren von durch endliche Sondengröße geweiteten Rasterkraftmikroskopiebildern

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Atomic force microscopy - Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 9/WG 5 - Kalibrierung von Sonden  

Ausgabe 2022-07
Originalsprache Englisch
Preis ab 106,30 €
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Inhaltsverzeichnis

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Steffen Jenkel

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