Norm
[AKTUELL]
ISO 23729
ISO 23729
Chemische Oberflächenanalyse - Rasterkraftmikroskopie - Leitfaden für Wiederherstellungsverfahren von durch endliche Sondengröße geweiteten Rasterkraftmikroskopiebildern
Titel (englisch)
Surface chemical analysis - Atomic force microscopy - Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie