Norm
[AKTUELL]
OVE EN 60749-44
OVE EN 60749-44
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen ( IEC 60749-44:2016) (deutsche Fassung)
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices ( IEC 60749-44:2016) (german version)
