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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

ISO 11952
Chemische Oberflächenanalyse - Rastersondennmikroskopie - Bestimung geometrischer Kenngrößen mit Rastersondenmikroskopie: Kalibrierung von Messystemen

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Scanning-probe microscopy - Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 9 - Rastersondenmikroskopie  

Ausgabe 2014-05
Originalsprache Englisch
Preis ab 76,70 €
Inhaltsverzeichnis

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Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2058

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