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Norm [AKTUELL]

NF C96-022-29 ; NF EN 60749-29:2012-08-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: latch-up test

Ausgabe 2012-08-01
Originalsprache Französisch
Preis ab 125,40 €
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