Norm [AKTUELL]

NF X21-073 ; NF ISO 16243:2012-06-01
Chemische Oberflächeanalyse - Aufnahme und Wiedergabe von Daten bei der Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS)

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)

Ausgabe 2012-06-01
Originalsprache Französisch
Preis ab 63,70 €
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