Norm [AKTUELL]

BS EN 60749-40
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Prüfverfahren zum Fall einer Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen

Titel (englisch)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using a strain gauge

Ausgabe 2011-09-30
Originalsprache Englisch
Preis ab 282,70 €
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