Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 62418
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren zur Metallisierungs-Stressmigration (IEC 62418:2010) (deutsche Fassung)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Metallization stress void test (IEC 62418:2010) (german version)

Ausgabe 2011-01-01
Originalsprache Deutsch
Preis ab 135,84 €
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