Norm
[AKTUELL]
SN EN 60749-33
SN EN 60749-33
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 33: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
