DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
ISO 15632
Elektronenstrahlmikroanalyse - Gerätespezifikation für energiedispersive Röntgenspektrometer mit Halbleiterdetektoren
Microbeam analysis - Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse