NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Projekt

Mikrobereichsanalyse - Herstellung von Schliffproben metallischer Werkstoffe mittels fokussiertem Ionenstrahl (FIB)

Beginn

2026-06-12

Geplante Dokumentnummer

ISO/AWI 26665

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-09-104 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 202 - Mikrobereichsanalyse  

Ihr Kontakt

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2058

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