NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Projekt

Chemische Oberflächenanalyse - Begriffe - Teil 4: Begriffe für die Totalreflektions-Röntgenfluoreszenz-Analyse (TXRF)

Beginn

2025-06-25

Geplante Dokumentnummer

ISO/CD 18115-4

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-09-103 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 1/WG 2 - Begriffsbestimmungen  

Ihr Kontakt

Batbayar Ganbaatar

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2038
Fax: +49 30 2601-42038

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