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ISO 11775	2015-10	Norm	Chemische Oberflächenanalyse - Rastersondenmikroskopie - Bestimmung der Cantilever-Federkonstantennormalen Mehr	Kaufen bei DIN Media
ISO 13095	2014-07	Norm	Chemische Oberflächenanalyse - Rasterkraftmikroskopie - Verfahren zur in situ-Charakterisierung des Schaftprofils von AFM-Sonden zur Messung von Nanostrukturen Mehr	Kaufen bei DIN Media
ISO 23729	2022-07	Norm	Chemische Oberflächenanalyse - Rasterkraftmikroskopie - Leitfaden für Wiederherstellungsverfahren von durch endliche Sondengröße geweiteten Rasterkraftmikroskopiebildern Mehr	Kaufen bei DIN Media

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