NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Norm-Entwurf

ISO/FDIS 23699
Mikrobereichsanalyse - Elektronenrückstreubeugung - Fachwörterverzeichnis

Titel (englisch)

Microbeam analysis - Electron backscatter diffraction - Vocabulary

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-09-104 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 202/SC 1 - Terminologie  

Ausgabe 2026-06
Originalsprache Englisch
Preis ab 76,70 €
Inhaltsverzeichnis

Ihr Kontakt

Batbayar Ganbaatar

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2038
Fax: +49 30 2601-42038

Zum Kontaktformular