2. Mitwirken
  3. Normenausschüsse
  4. NMP
NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Über NMP Aktuelles Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien
Norm-Entwurf [NEU]

ISO/FDIS 25387
Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Verfahren zur Bestimmung der Punktauflösung eines hochauflösenden Transmissionselektronenmikroskops

Titel (englisch)

Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Procedures for determining the point resolution of high-resolution transmission electron microscopes

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 202/SC 3 - Analytische Elektronenmikroskopie  

Ausgabe 2026-03
Originalsprache Englisch
Preis ab 233,60 €
Kaufen bei DIN Media
Inhaltsverzeichnis

Ihr Kontakt

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2058

Zum Kontaktformular