DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
DIN 50449-2
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung des Verunreinigungsgehaltes in III-V-Verbindungshalbleitern mittels Infrarotabsorption - Teil 2: Bor in Galliumarsenid
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurity content in semiconductors by infrared absorption - Part 2: Boron in gallium arsenide
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Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062 BR - Beirat des DIN-Normenausschusses Materialprüfung (NMP)