NA 152
DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG)
DIN EN ISO 16610-29 [AKTUELL] wird in folgenden Dokumenten zitiert:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| VDI/VDE 2655 Blatt 1.3 | 2020-02 | Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von flächenhaft messenden Interferometern und Interferenzmikroskopen für die Formmessung Mehr |
