NA 152
DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG)
DIN EN ISO 25178-604 [ZURÜCKGEZOGEN] wird in folgenden Dokumenten zitiert:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| DIN EN ISO 2808 | 2019-12 | Beschichtungsstoffe - Bestimmung der Schichtdicke (ISO 2808:2019); Deutsche Fassung EN ISO 2808:2019 Mehr |
| DIN EN ISO 4518 | 2021-07 | Metallische Überzüge - Messen der Schichtdicke - Profilometrisches Verfahren (ISO 4518:2021); Deutsche Fassung EN ISO 4518:2021 Mehr |
| DIN EN ISO/ASTM 52902 | 2023-12 | Additive Fertigung - Testkörper - Geometrische Leistungsbewertung additiver Fertigungssysteme (ISO/ASTM 52902:2023); Deutsche Fassung EN ISO/ASTM 52902:2023 Mehr |
| DIN EN ISO/ASTM 52908 | 2024-03 | Additive Fertigung von Metallen - Eigenschaften von Fertigteilen - Nachbearbeitung, Inspektion und Prüfung von Bauteilen hergestellt mittels pulverbettbasiertem Schmelzen (ISO/ASTM 52908:2023); Deutsche Fassung EN ISO/ASTM 52908:2023 Mehr |
| DIN EN ISO/ASTM 52927 | 2024-08 | Additive Fertigung - Grundlagen - Hauptmerkmale und entsprechende Prüfverfahren (ISO/ASTM 52927:2024); Deutsche Fassung EN ISO/ASTM 52927:2024 Mehr |
| DIN EN ISO/ASTM 52945 | 2024-04 | Additive Fertigung für die Automobilindustrie - Grundsätze der Qualifizierung - Generische Maschinenbewertung und Spezifikation von Leistungskennzahlen für PBF-LB/M-Prozesse (ISO/ASTM 52945:2023); Deutsche Fassung EN ISO/ASTM 52945:2024 Mehr |
| DIN EN 17488 | 2021-09 | Erhaltung des kulturellen Erbes - Methodologie für die analytische Prüfung zur Auswahl von Reinigungsverfahren von porösen anorganischen Objekten des kulturellen Erbes; Deutsche Fassung EN 17488:2021 Mehr |
| DIN ISO 14999-4 | 2016-04 | Optik und Photonik - Interferometrische Messung von optischen Elementen und Systemen - Teil 4: Interpretation und Beurteilung der Toleranzen nach ISO 10110 (ISO 14999-4:2015) Mehr |
| DIN 32567-5 | 2015-06 | Fertigungsmittel für Mikrosysteme - Ermittlung von Materialeinflüssen auf die optische und taktile dimensionelle Messtechnik - Teil 5: Ableitung von Korrekturwerten für optische Messgeräte Mehr |
| DIN 58557-1 | 2023-03 | Fertigungsmittel für Mikrosysteme - Verfahren zur Messung der Gestalt von Mikrolinsenarrays - Teil 1: Einseitige Messung eines Mikrolinsenarrays Mehr |
