NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 60793-1-34 ; VDE 0888-234:2007-01 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60793-1-41 | 2003-04 | Lichtwellenleiter - Teil 1-41: Messmethoden und Prüfverfahren; Bandbreite Mehr |
| IEC 60793-1-42 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-42: Messmethoden und Prüfverfahren; Chromatische Dispersion Mehr |
| IEC 60793-1-43 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-43: Messmethoden und Prüfverfahren; Numerische Appertur Mehr |
| IEC 60793-1-44 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-44: Messmethoden und Prüfverfahren; Grenzwellenlänge Mehr |
| IEC 60793-1-45 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-45: Messmethoden und Prüfverfahren; Modenfelddurchmesser Mehr |
| IEC 60793-1-45 Corrigendum 1 | 2002-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-45: Messmethoden und Prüfverfahren; Modenfelddurchmesser Mehr |
| IEC 60793-1-46 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-46: Messmethoden und Prüfverfahren; Überwachung der optischen Übertragungsänderungen Mehr |
| IEC 60793-1-47 | 2006-09 | Lichtwellenleiter - Teil 1-47: Messmethoden und Prüfverfahren - Makrobiegeverlust Mehr |
| IEC 60793-1-48 | 2003-05 | Lichtwellenleiter - Teil 1-48: Messmethoden und Prüfverfahren; Polarisationsmodendispersion Mehr |
| IEC 60793-1-49 | 2006-06 | Lichtwellenleiter - Teil 1-49: Messmethoden und Prüfverfahren - Gruppenlaufzeitdifferenz Mehr |
