NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Über DKE Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien

Norm [AKTUELL]

IEC 60444-8
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units

Titel (englisch)

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units

Ausgabe 2003-10

Originalsprache Englisch , Französisch

Preis Auf Anfrage

Kaufen bei DIN Media

Inhaltsverzeichnis