NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61747-1 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60191-3 | 1999-10 | Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen - Teil 3: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Gehäusezeichnungen für integrierte Schaltungen Mehr |
| IEC 60410 | 1973 | Probenahmepläne und -verfahren für die Fehlerkontrolle Mehr |
| IEC 60747-1 | 1983 | Halbleiterbauelemente - Diskrete Bauelemente und integrierte Schaltkreise; Teil 1: Allgemeines Mehr |
| IEC 60747-10 ; QC 700000:1991-04 | 1991-04 | Halbleiterbauelemente; Einzel-Halbleiterbauelemente; Teil 10: Fachgrundspezifikation für Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen Mehr |
| IEC 60749 | 1996-10 | Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren Mehr |
| IEC 61747-2-1 ; QC 720301:1998-10 | 1998-10 | Flüssigkristall- und Halbleiter-Anzeige-Bauelemente - Teil 2-1: Einfarbige passive Matrix-Flüssigkristall-Anzeigemodule (LCD-Module) - Vordruck für Bauartspezifikation Mehr |
| IEC 61747-3-1 ; QC 720201:1998-04 | 1998-04 | Flüssigkristall- und Halbleiter-Anzeige-Bauelemente - Teil 3-1: Flüssigkristall-Anzeigezellen (LCD) - Vordruck für Bauartspezifikation Mehr |
| IEC 61747-4 | 1998-09 | Flüssigkristall- und Halbleiter-Anzeige-Bauelemente - Teil 4: Flüssigkristall-Anzeigemodule und -zellen - Wesentliche Grenz- und Kennwerte Mehr |
| IEC 61747-5 | 1998-06 | Flüssigkristall- und Halbleiter-Anzeige-Bauelemente - Teil 5: Umwelt-, Lebensdauer- und mechanische Prüfverfahren Mehr |
