NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 60794-1-1 ; VDE 0888-100-1:2002-11 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60793-1-21 | 2001-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-21: Messmethoden und Prüfverfahren; Beschichtungsgeometrie Mehr |
| IEC 60793-1-22 | 2001-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-22: Messmethoden und Prüfverfahren; Längenmessung Mehr |
| IEC 60793-1-4 | 1995-11 | Lichtwellenleiter - Teil 1: Fachgrundspezifikation - Hauptabschnitt 4: Meßverfahren für Übertragungseigenschaften und optische Eigenschaften Mehr |
| IEC 60793-1-40 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-40: Messmethoden und Prüfverfahren; Dämpfung Mehr |
| IEC 60793-1-41 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-41: Messmethoden und Prüfverfahren; Bandbreite Mehr |
| IEC 60793-1-42 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-42: Messmethoden und Prüfverfahren; Chromatische Dispersion Mehr |
| IEC 60793-1-43 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-43: Messmethoden und Prüfverfahren; Numerische Appertur Mehr |
| IEC 60793-1-44 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-44: Messmethoden und Prüfverfahren; Grenzwellenlänge Mehr |
| IEC 60793-1-45 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-45: Messmethoden und Prüfverfahren; Modenfelddurchmesser Mehr |
| IEC 60793-1-46 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-46: Messmethoden und Prüfverfahren; Überwachung der optischen Übertragungsänderungen Mehr |
