NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 60749-34-1 [VORBESTELLBAR] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60747-2 | 2016-04 | Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente - Teil 2: Gleichrichtdioden Mehr |
| IEC 60747-6 | 2016-04 | Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente - Teil 6: Thyristoren Mehr |
| IEC 60747-8 | 2010-12 | Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente - Teil 8: Feldeffekttransistoren Mehr |
| IEC 60747-9 | 2019-11 | Halbleiterbauelemente - Teil 9: Bipolartransistoren mit isoliertem Gate (IGBTs) Mehr |
| IEC 60191-4 | 2013-10 | Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen - Teil 4: Codierungssystem für Gehäuse und Eingruppierung der Gehäuse nach der Gehäuseform für Halbleiterbauelemente Mehr |
| IEC 60749-34 | 2010-10 | Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34: Lastwechselprüfung Mehr |
| IEC 60191-2-DB | 2012-09 | Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions Mehr |
| IEC 60747-15 | 2024-10 | Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente - Teil 15: Isolierte Leistungshalbleiter Mehr |
| IEC 60749-23 | 2025-12 | Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur Mehr |
