2. Mitwirken
3. Normenausschüsse
4. DKE

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Einführungsbeitrag

Dieser Teil des Dokuments ist anwendbar für Crimpverbindungen, die mit Folgenden hergestellt sind: entsprechend ausgelegten nichtisolierten oder vorisolierten Crimphülsen und Litzenleiter mit einem Querschnitt von 0,05 mm² bis 10 mm² oder Massivdrähte mit einem Durchmesser von 0,25 mm bis 3,6 mm zur Verwendung in Elektro- und Elektronikgeräten. Neben den Prüfverfahren sind Angaben über die Werkstoffe und Daten aus der industriellen Erfahrung enthalten, damit elektrisch stabile Verbindungen unter vorgeschriebenen Umweltbedingungen hergestellt werden können. Es werden die Begriffe, die Verarbeitung, die Prüfungen und Prüfverfahren und die unterschiedlichen Prüfprogramme festgelegt. Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich des Dokuments. Es wird darauf hingewiesen, dass einige Branchen (zum Beispiel Automobil-, Raumfahrt-, Nuklear- und Rüstungsindustrie) unter Umständen über spezifische Verarbeitungsnormen und/oder Qualitätsanforderungen verfügen, die nicht im Anwendungsbereich dieses Dokuments liegen. Gegenüber DIN EN 60352-2:2014-04 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) die früheren Abschnitte 6 bis 15 wurde in den neuen informativen Anhang A mit dem Titel „Anwendungshinweise“ verschoben; b) mehrere Festlegungen wurden hinzugefügt (Leiter, Draht, Kabel, Crimpen, Pressverbindung/Crimpverbindung, Crimpkontakt, Anschlusspunkt/Pol/Klemme, Kabelschuh, vorisolierter Kabelschuh, Anschluss, Verbindungsmaterial, Spleiß, Isolierungsunterstützung, Isolierungshalterung, vorisolierte Pressverbindung/Crimpverbindung, Crimpwerkzeug, Aufnahme, Positionierstück, Auslösesperre eines Crimpwerkzeugs, Crimp-Amboss, Crimpnest, Crimp-Stempel, Crimphöhe, Crimp-Prüfloch, Drahtgrößenbereich der Crimphülse, Nennquerschnitt, geometrischer (tatsächlicher) Querschnitt, verseilter Leiter, Crimptrichter, Crimptiefe, Hersteller, Anwender, Prozessindikator (PID)); c) im Abschnitt 4 „Verarbeitung“ wurde eine dreistufige Einteilung nach Endproduktklasse eingeführt, die auf der erwarteten Zuverlässigkeitsstufe der Endanwendung beruht, für die die entsprechenden Crimpverbindungen geeignet sind. Die Einteilung entspricht in etwa der in 4.3 von IEC 61191-1:2018 für gelötete elektrische und elektronische Baugruppen; d) zur besseren Verständlichkeit wurde der bisherige Unterabschnitt 4.5 „Crimpverbindungen“, jetzt neu nummeriert und umbenannt in 5.5 „Voraussetzungen für Crimpverbindungen“, in mehrere Unterabschnitte der dritten Ebene mit entsprechenden Titeln aufgeteilt; e) zulässige Einzeldrahtbeschädigung wurde mit Verweisung auf die dreistufige Einteilung nach Endanwendung für die Herstellung von Prüflingen eingeführt; f) basierend auf der industriellen Erfahrung wurde in 5.3.1 der Mindestkupfergehalt einer für die Herstellung von Crimpzangen geeigneten Kupferlegierung von ursprünglich 60 % auf 57 % gesenkt; g) die Reißdehnung von geglühtem Kupfer, das für zu crimpende Leiter geeignet ist, wurde erhöht; h) der Querschnitt von Leitern für Prüfzwecke darf bei Drähten mit Nennquerschnitten größer 2,5 mm² der (handelsübliche) Nennquerschnitt statt des (tatsächlichen) geometrischen Querschnitts sein (siehe 5.4.3), wobei die geometrische (tatsächliche) Querschnittsfläche im Streitfall über die Prüfergebnisse als Referenz dient; i) in 5.4.5 wird nun die Konzentrizität der Drahtisolierung berücksichtigt; j) der bisherige Abschnitt 5.2.1 „Allgemeine Untersuchungen“ wurde neu nummeriert und umbenannt in 7.1 „Allgemeine Prüfung von Crimphülsen und Drähten“ (Prüfung von Teilen wie weiter unten benannt) und ein neuer Unterabschnitt 7.2 „Prüfung der Crimpmaße“ wurde hinzugefügt, der die Prüfung der Maße nach dem Crimpen behandelt und mehrere Unterabschnitte der dritten Ebene umfasst: 7.2.1 „Crimphöhe Ch, Crimpbreite Cw und messbare Crimpbreite Cwm“, 7.2.2 „Kontaktverformung nach dem Crimpen“, 7.2.3 „Sichtprüfung von Isolationsstrecke und Leiterüberstand“, 7.2.4 „Sichtprüfung von Spleiß-Crimpverbindungen“, 7.2.5 „Sichtprüfung von Crimpverbindungen an geschlossenen (gedrehten) Crimphülsen“, 7.2.6 „Sichtprüfung von Crimpverbindungen an offenen Crimphülsen (B-Crimp)“, 7.2.7 „Sichtprüfung von Crimpverbindungen mit offenen Crimphülsen mit Isolierungshalterung“; k) die Anforderungen an die Auszugskraft (Zugfestigkeit) zur Erfüllung der Sicherheitsanforderungen von Crimpverbindungen aus IEC 60352-2:2006, Tabelle 1 wurden übernommen, hier neu nummeriert als Tabelle 5; interpolierte Werte für die am häufigsten verwendeten Querschnitte 0,34 mm² und 0,37 mm² wurden hinzugefügt. Verweisung auf IEC 61210, da die Quelle dieser Sicherheitswerte aufgrund teilweiser Ungenauigkeit gestrichen wurde. Eine wahlfreie Festlegung höherer Anforderungen an die Auszugskraft, basierend auf der Einteilung nach Endprodukt nach 5.1, die repräsentativer sind für die Werte, die auf Grundlage des Typs der Crimphülse, der Art des Crimpens sowie des Werkstoffs und des Oberflächenüberzugs von Hülse und Draht erreicht werden können, wurden in A.7.3 eingeführt; l) in 7.3.2 wurde eine Mikroschliffprüfung (wahlfrei) hinzugefügt; m) in 7.3.7 wurde eine Schwingungsprüfung (wahlfrei) hinzugefügt; n) in 7.4.3 wurde eine Prüfung der Strombelastbarkeit (wahlfrei) hinzugefügt; o) in 7.5.5 wurde eine zyklische Strombelastungsprüfung hinzugefügt; p) in 7.6.2 wurde eine Korrosionsprüfung mit strömendem Mischgas (wahlfrei) hinzugefügt; q) „Crimpen bei niedriger Temperatur“ (vorher 5.4.2.5) wurde in 7.5.6 vervollständigt, indem das in IEC 60352-2:1990, 11.4.5, bereits vorhandene Prüfverfahren neu eingetragen wurde; r) die Prüflingstypen wurden erweitert: Ein neuer Prüfling Typ A wurde hinzugefügt, Typ B ist der bisherige Typ A, Typ C ist der bisherige Typ B, Typ D ist der bisherige Typ C, Typ E ist der bisherige Typ D, geändert durch Hinzufügen von Referenzdrähten, Typ F ist der bisherige Typ E, und die neuen Prüflingstypen G und H wurden für die Durchführung von Prüfungen an Spleißen hinzugefügt; s) die normativen Verweisungen und die Literaturhinweise wurden aktualisiert und nach Bedarf erweitert. Die Norm erhöht durch ihre Anwendung die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender, gibt Prüflaboren und Herstellern definierte Angaben zur Prüfung.

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 60352-2:2014-04 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) die früheren Abschnitte 6 bis 15 wurde in den neuen informativen Anhang A mit dem Titel „Anwendungshinweise“ verschoben; b) mehrere Festlegungen wurden hinzugefügt (Leiter, Draht, Kabel, Crimpen, Pressverbindung/Crimpverbindung, Crimpkontakt, Anschlusspunkt/Pol/Klemme, Kabelschuh, vorisolierter Kabelschuh, Anschluss, Verbindungsmaterial, Spleiß, Isolierungsunterstützung, Isolierungshalterung, vorisolierte Pressverbindung/Crimpverbindung, Crimpwerkzeug, Aufnahme, Positionierstück, Auslösesperre eines Crimpwerkzeugs, Crimp-Amboss, Crimpnest, Crimp-Stempel, Crimphöhe, Crimp-Prüfloch, Drahtgrößenbereich der Crimphülse, Nennquerschnitt, geometrischer (tatsächlicher) Querschnitt, verseilter Leiter, Crimptrichter, Crimptiefe, Hersteller, Anwender, Prozessindikator (PID)); c) im Abschnitt 4 „Verarbeitung“ wurde eine dreistufige Einteilung nach Endproduktklasse eingeführt, die auf der erwarteten Zuverlässigkeitsstufe der Endanwendung beruht, für die die entsprechenden Crimpverbindungen geeignet sind. Die Einteilung entspricht in etwa der in 4.3 von IEC 61191-1:2018 für gelötete elektrische und elektronische Baugruppen; d) zur besseren Verständlichkeit wurde der bisherige Unterabschnitt 4.5 „Crimpverbindungen“, jetzt neu nummeriert und umbenannt in 5.5 „Voraussetzungen für Crimpverbindungen“, in mehrere Unterabschnitte der dritten Ebene mit entsprechenden Titeln aufgeteilt; e) zulässige Einzeldrahtbeschädigung wurde mit Verweisung auf die dreistufige Einteilung nach Endanwendung für die Herstellung von Prüflingen eingeführt; f) basierend auf der industriellen Erfahrung wurde in 5.3.1 der Mindestkupfergehalt einer für die Herstellung von Crimpzangen geeigneten Kupferlegierung von ursprünglich 60 % auf 57 % gesenkt; g) die Reißdehnung von geglühtem Kupfer, das für zu crimpende Leiter geeignet ist, wurde erhöht; h) der Querschnitt von Leitern für Prüfzwecke darf bei Drähten mit Nennquerschnitten größer 2,5 mm² der (handelsübliche) Nennquerschnitt statt des (tatsächlichen) geometrischen Querschnitts sein (siehe 5.4.3), wobei die geometrische (tatsächliche) Querschnittsfläche im Streitfall über die Prüfergebnisse als Referenz dient; i) in 5.4.5 wird nun die Konzentrizität der Drahtisolierung berücksichtigt; j) der bisherige Abschnitt 5.2.1 „Allgemeine Untersuchungen“ wurde neu nummeriert und umbenannt in 7.1 „Allgemeine Prüfung von Crimphülsen und Drähten“ (Prüfung von Teilen wie weiter unten benannt) und ein neuer Unterabschnitt 7.2 „Prüfung der Crimpmaße“ wurde hinzugefügt, der die Prüfung der Maße nach dem Crimpen behandelt und mehrere Unterabschnitte der dritten Ebene umfasst: 7.2.1 „Crimphöhe Ch, Crimpbreite Cw und messbare Crimpbreite Cwm“, 7.2.2 „Kontaktverformung nach dem Crimpen“, 7.2.3 „Sichtprüfung von Isolationsstrecke und Leiterüberstand“, 7.2.4 „Sichtprüfung von Spleiß-Crimpverbindungen“, 7.2.5 „Sichtprüfung von Crimpverbindungen an geschlossenen (gedrehten) Crimphülsen“, 7.2.6 „Sichtprüfung von Crimpverbindungen an offenen Crimphülsen (B-Crimp)“, 7.2.7 „Sichtprüfung von Crimpverbindungen mit offenen Crimphülsen mit Isolierungshalterung“; k) die Anforderungen an die Auszugskraft (Zugfestigkeit) zur Erfüllung der Sicherheitsanforderungen von Crimpverbindungen aus IEC 60352-2:2006, Tabelle 1, wurden übernommen, hier neu nummeriert als Tabelle 5; interpolierte Werte für die am häufigsten verwendeten Querschnitte 0,34 mm² und 0,37 mm² wurden hinzugefügt. Verweisung auf IEC 61210, da die Quelle dieser Sicherheitswerte aufgrund teilweiser Ungenauigkeit gestrichen wurde. Eine wahlfreie Festlegung höherer Anforderungen an die Auszugskraft, basierend auf der Einteilung nach Endprodukt nach 5.1, die repräsentativer sind für die Werte, die auf Grundlage des Typs der Crimphülse, der Art des Crimpens sowie des Werkstoffs und des Oberflächenüberzugs von Hülse und Draht erreicht werden können, wurden in A.7.3 eingeführt; l) in 7.3.2 wurde eine Mikroschliffprüfung (wahlfrei) hinzugefügt; m) in 7.3.7 wurde eine Schwingungsprüfung (wahlfrei) hinzugefügt; n) in 7.4.3 wurde eine Prüfung der Strombelastbarkeit (wahlfrei) hinzugefügt; o) in 7.5.5 wurde eine zyklische Strombelastungsprüfung hinzugefügt; p) in 7.6.2 wurde eine Korrosionsprüfung mit strömendem Mischgas (wahlfrei) hinzugefügt; q) „Crimpen bei niedriger Temperatur“ (vorher 5.4.2.5) wurde in 7.5.6 vervollständigt, indem das in IEC 60352-2:1990, 11.4.5, bereits vorhandene Prüfverfahren neu eingetragen wurde; r) die Prüflingstypen wurden erweitert: Ein neuer Prüfling Typ A wurde hinzugefügt, Typ B ist der bisherige Typ A, Typ C ist der bisherige Typ B, Typ D ist der bisherige Typ C, Typ E ist der bisherige Typ D, geändert durch Hinzufügen von Referenzdrähten, Typ F ist der bisherige Typ E, und die neuen Prüflingstypen G und H wurden für die Durchführung von Prüfungen an Spleißen hinzugefügt; s) die normativen Verweisungen und die Literaturhinweise wurden aktualisiert und nach Bedarf erweitert.

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 651 - Steckverbinder