NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 60947-8 ; VDE 0660-302:2023-10 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| CISPR 11 | 2015-06 | Industrielle, wissenschaftliche und medizinische Geräte - Funkstörungen - Grenzwerte und Messverfahren Mehr |
| CISPR 11 AMD 1 | 2016-06 | Industrielle, wissenschaftliche und medizinische Geräte - Funkstörungen - Grenzwerte und Messverfahren; Änderung 1 Mehr |
| IEC 60068-2-27 | 2008-02 | Umgebungseinflüsse - Teil 2-27: Prüfverfahren - Prüfung Ea und Leitfaden: Schocken Mehr |
| IEC 60068-2-6 | 2007-12 | Umgebungseinflüsse - Teil 2-6: Prüfverfahren - Prüfung Fc: Schwingen, sinusförmig Mehr |
| IEC 60738-1-4 ; QC 440004:2008-02 | 2008-02 | Thermistoren - Direkt geheizte temperaturabhängige Widerstände mit positivem Temperaturkoeffizienten - Teil 1-4: Vordruck für Bauartspezifikation - Anwendung als Messfühler - Bewertungsstufe EZ Mehr |
| IEC 60947-1 | 2020-04 | Niederspannungsschaltgeräte - Teil 1: Allgemeine Festlegungen Mehr |
| IEC 60947-5-1 | 2016-05 | Niederspannungsschaltgeräte - Teil 5-1: Steuergeräte und Schaltelemente - Elektromechanische Steuergeräte Mehr |
| IEC 61140 | 2016-01 | Schutz gegen elektrischen Schlag - Gemeinsame Anforderungen für Anlagen und Betriebsmittel Mehr |
| ISO 2859-1 | 1999-11 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 1: Nach der annehmbaren Qualitätsgrenzlage (AQL) geordnete Stichprobenanweisungen für die Prüfung einer Serie von Losen anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler Mehr |
| ISO 2859-1 AMD 1 | 2011-06 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 1: Nach der annehmbaren Qualitätsgrenzlage (AQL) geordnete Stichprobenpläne für die Prüfung einer Serie von Losen - Mehr |
