NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 61191-1 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 61193-1 | 2001-12 | Qualitätsbewertungssysteme - Teil 1: Protokollierung und Analyse von Fehlern auf bestückten Leiterplatten Mehr |
| IEC 61193-3 | 2013-01 | Qualitätsbewertungssysteme - Teil 3: Auswahl und Anwendung von Stichprobenanweisungen für Endprodukte von Leiterplatten und Laminaten und fertigungsbegleitende Auditierung Mehr |
| IEC 62326-1 ; QC 230000:2002-03 | 2002-03 | Leiterplatten - Teil 1: Fachgrundspezifikation Mehr |
| IEC 62326-4 ; QC 230500:1996-12 | 1996-12 | Leiterplatten - Teil 4: Starre Mehrlagen-Leiterplatten mit Durchverbindungen - Rahmenspezifikation Mehr |
| IPC EIA/JEDEC J-STD-002E ; IPC EIA/IPC/JEDEC J-STD-002E:2017-11-01 | 2017-11-01 | Solderability Tests for Component Leads, Terminations, Lugs, Terminals and Wires Mehr |
| IPC J-STD-006C ; IPC J-STD-006:2013-08-12 | 2013-08-12 | Requirements for Electronic Grade Solder Alloys and Fluxed and Non-Fluxed Solid Solders for Electronic Soldering Applications Mehr |
| IPC OI-645 | 1993-10 | Standard for Visual Optical Inspection Aids Mehr |
| IPC TM-650 | 2015-06-06 | TM-650: Test Methods Manual Mehr |
| IPC 9191 | 1999-11-01 | General Guidelines for Implementation of Statistical Process Control (SPC) Mehr |
