NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Über DKE Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien

DIN EN 62496-2 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer	Ausgabe	Titel
IEC 62496-2-4	2013-06	Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2-4: Optische Übertragungsprüfung für optische Leiterplatten ohne Eingangs-/Ausgangsfasern Mehr
IEC/TR 62349	2014-02	Leitfaden für Mess- und Prüfverfahren - Grundlegende Prüfverfahren für polarisationserhaltende optische Fasern Mehr
IEC/TR 62658	2013-07	Roadmap für optische Leiterplatten und ihre zugehörigen Verpackungstechnologien Mehr
IEC/TS 62661-2-1	2013-08	Optische Backplanes - Produktspezifikation - Teil 2-1: Optische Backplane mit optischen Leiterplatten und rechtwinkligen optischen Steckverbindern für Mehrkernfasern Mehr