NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Norm [AKTUELL]

DIN EN 61745
Endflächen-Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Geometrie von Lichtwellenleitern (IEC 61745:2017); Deutsche Fassung EN 61745:2017

Titel (englisch)

End-face image analysis procedure for the calibration of optical fibre geometry test sets (IEC 61745:2017); German version EN 61745:2017

Einführungsbeitrag

Diese Internationale Norm beschreibt die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Durchführung einer Endflächen-Bildanalyse, die auch als Nahfeld- oder Grautonanalyse bezeichnet wird. Die Grundsätze dürfen jedoch für verschiedene Typen von Prüfeinrichtungen angewendet werden. Die beschriebenen Verfahren sind von Kalibrierlaboren und von den Herstellern und Anwendern von Geometrieprüfeinrichtungen durchzuführen und dienen der Kalibrierung von Geometrieprüfeinrichtungen und der Bewertung der Messunsicherheiten der kalibrierten Prüfeinrichtungen. Die Kalibrierung von Messeinrichtungen für die Faserbeschichtung oder für Kabel gehört nicht zum Anwendungsbereich dieser Norm. Zuständig ist das DKE/UK 412.2 "Komponenten für Kommunikationskabelanlagen" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.

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Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/UK 412.2 - Komponenten für Kommunikationskabelanlagen 

Ausgabe 2018-06
Originalsprache Deutsch
Preis ab 130,60 €
Inhaltsverzeichnis

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