NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 62435-1 ; VDE 0884-135-1:2017-10 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 62258-2 | 2011-05 | Halbleiter-Chip-Erzeugnisse - Teil 2: Datenaustausch-Formate Mehr |
| IEC 62258-5 | 2006-08 | Halbleiter-Chip-Erzeugnisse - Teil 5: Anforderungen für Angaben hinsichtlich der elektrischen Simulation Mehr |
| IEC 62258-6 | 2006-08 | Halbleiter-Chip-Erzeugnisse - Teil 6: Anforderungen für Angaben hinsichtlich der thermischen Simulation Mehr |
| IEC 62402 | 2007-06 | Anwendungsleitfaden Obsoleszenzmanagement Mehr |
| IEC 62435-1 | 2017-01 | Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 1: Allgemeines Mehr |
| IEC 62435-2 | 2017-01 | Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 2: Schädigungsmechanismen Mehr |
| IEC 62435-5 | 2017-01 | Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 5: Chip- und Wafererzeugnisse Mehr |
| IEC/TR 61340-5-2 | 2007-08 | Elektrostatik - Teil 5-2: Schutz von elektronischen Bauelementen gegen elektrostatische Phänomene - Benutzerhandbuch Mehr |
| IEC/TR 62258-3 | 2010-08 | Halbleiter-Chip-Erzeugnisse - Teil 3: Empfehlungen für die Praxis bei Handhabung, Verpackung und Lagerung Mehr |
| IEC/TR 62380 | 2004-08 | Handbuch für Zuverlässigkeitsdaten - Allgemeines Modell für Zuverlässigkeits-Vorhersagen von elektronischen Bauteilen, Leiterplatten und Geräten Mehr |
