NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

DIN IEC 60603-8 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer Ausgabe Titel
IEC 60326-7 1981 Gedruckte Leiterplatten; Teil 7: Spezifikation für flexible Ein- und Zweiebenenleiterplatten ohne Durchgangsverbindungen Mehr 
IEC 60326-7 AMD 1 1989-11 Gedruckte Schaltungen, Leiterplatten; Teil 7: Anforderungen an flexible Leiterplatten mit Leiterbildern auf einer oder beiden Seiten ohne Durchverbindungen; Änderung 1 zu IEC 60326-7:1981 Mehr 
IEC 60326-8 1981 Gedruckte Leiterplatten; Teil 8: Spezifikation für flexible Ein- und Zweiebenenleiterplatten mit Durchgangsverbindungen Mehr 
IEC 60326-8 AMD 1 1989-11 Gedruckte Schaltungen, Leiterplatten; Teil 8: Anforderungen an flexible Leiterplatten mit Leiterbildern auf einer oder beiden Seiten mit Durchverbindungen; Änderung 1 zu IEC 60326-8:1981 Mehr 
IEC 60326-9 1991-02 Gedruckte Schaltungen; Teil 9: Anforderungen an flexible Mehrlagenleiterplatten mit Druckverbindungen Mehr 
IEC 60512-2 1985 Elektromechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Grundlegende Prüf- und Meßverfahren; Teil 2: Allgemeine Kontrolle, Prüfungen des elektrischen Durchgangs- und des Kontaktwiderstandes, Isolationsprüfungen und Prüfungen der Spannungsbelastbarkeit Mehr 
IEC 60512-3 1976 Elektromechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Grundlegende Prüf- und Meßverfahren; Teil 3: Strombelastbarkeitsprüfungen Mehr 
IEC 60512-4 1976 Elektromechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Grundlegende Prüf- und Meßverfahren; Teil 4: Prüfung mit dynamischer Beanspruchung Mehr 
IEC 60512-5 1992-08 Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen; Meß- und Prüfverfahren; Teil 5: Aufprallprüfungen (freie Bauelemente), Prüfungen mit statischer Last (feste Bauelemente), Dauerprüfungen und Überlastprüfungen Mehr 
IEC 60512-6 1984 Elektromechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Grundlegende Prüf- und Meßverfahren; Teil 6: Klima- und Lötprüfungen Mehr