NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61747-1 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60410 | 1973 | Probenahmepläne und -verfahren für die Fehlerkontrolle Mehr |
| IEC 60747-1 | 1983 | Halbleiterbauelemente - Diskrete Bauelemente und integrierte Schaltkreise; Teil 1: Allgemeines Mehr |
| IEC 60747-10 ; QC 700000:1991-04 | 1991-04 | Halbleiterbauelemente; Einzel-Halbleiterbauelemente; Teil 10: Fachgrundspezifikation für Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen Mehr |
| IEC 60747-5 | 1992-02 | Halbleiterbauelemente; Einzel-Halbleiterbauelemente und Integrierte Schaltungen; Teil 5: Optoelektronische Bauelemente Mehr |
| IEC 60749 | 1996-10 | Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren Mehr |
| IEC 61747-5 | 1998-06 | Flüssigkristall- und Halbleiter-Anzeige-Bauelemente - Teil 5: Umwelt-, Lebensdauer- und mechanische Prüfverfahren Mehr |
