NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

DIN ETS 300323-1 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer Ausgabe Titel
ETS 300323-2 1995-06 Funkgeräte und -systeme - Spezifikation der Prüfungen des öffentlichen Zugangsprofils (PAP) zum digitalen euröpäischen Funkfernsprechnetz (DECT) - Teil 2: Abstrakte Prüffolge (ATS) für PT Mehr 
ETS 300323-3 1994-04 Funkgeräte und -systeme - Spezifikation der Prüfungen des öffentlichen Zugangsprofils (PAP) zum digitalen euröpäischen Funkfernsprechnetz (DECT) - Teil 3: PICS-Formularsatz für PT Mehr 
ETS 300323-4 1994-04 Funkgeräte und -systeme - Spezifikation der Prüfungen des öffentlichen Zugangsprofils (PAP) zum digitalen euröpäischen Funkfernsprechnetz (DECT) - Teil 4: PIXIT-Formularsatz für PT Mehr 
ETS 300323-5 1995-06 Funkgeräte und -systeme - Spezifikation der Prüfungen des öffentlichen Zugangsprofils (PAP) zum digitalen euröpäischen Funkfernsprechnetz (DECT) - Teil 5: Abstrakte Prüffolge (ATS) für FT Mehr 
ETS 300323-6 1994-04 Funkgeräte und -systeme - Spezifikation der Prüfungen des öffentlichen Zugangsprofils (PAP) zum digitalen euröpäischen Funkfernsprechnetz (DECT) - Teil 6: PICS-Formularsatz für FT Mehr 
ETS 300323-7 1994-04 Funkgeräte und -systeme - Spezifikation der Prüfungen des öffentlichen Zugangsprofils (PAP) zum digitalen euröpäischen Funkfernsprechnetz (DECT) - Teil 7: PIXIT-Formularsatz für FT Mehr 
I-ETS 300131 1994-11 Funkgeräte und -systeme - Festlegung der gemeinsamen Luftschnittstelle für das Zusammenwirken von schnurlosen Telefongeräten im Frequenzband 864,1 MHz bis 868,1 MHz einschließlich öffentlicher Dienste Mehr 
ISO/IEC 9646-1 1994-12 Informationstechnik - Kommunikation Offener Systeme - Methodik der Konformitätsprüfung - Teil 1: Allgemeine Konzepte Mehr 
ISO/IEC 9646-2 1994-12 Informationstechnik - Kommunikation Offener Systeme - Methodik der Konformitätsprüfung - Teil 2: Spezifikation der abstrakten Testsuite Mehr 
ISO/IEC 9646-6 1994-12 Informationstechnik - Kommunikation Offener Systeme - Methodik der Konformitätsprüfung - Teil 6: Profiltestspezifikation Mehr