NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN IEC 60512-6 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60068 | 1954-01 | Basic climatic and mechanical robustness testing procedure for components Mehr |
| IEC 60068-1 | 1960-01 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 1: Allgemeines Mehr |
| IEC 60068-2-1 | 1974 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen; Prüfung A: Niedrige Temperaturen Mehr |
| IEC 60068-2-1 | 1990-04 | Grundlegende Umweltprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen, Prüfgruppe A: Kälte Mehr |
| IEC 60068-2-1A | 1976 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen; 1. Ergänzung Mehr |
| IEC 60068-2-10 | 1968-01 | Basic environmental testing procedures for electronic components and electronic equipment - Part 2: Tests - Test J: Mould growth Mehr |
| IEC 60068-2-10 | 1988 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen; Prüfung J: Schimmelpilzwachstum Mehr |
| IEC 60068-2-10A | 1969-01 | Basic environmental testing procedures for electronic components and electronic equipment - Part 2: Tests - Test J: Mould growth; Supplement 1 Mehr |
| IEC 60068-2-10A AMD 1 | 1972-11 | Basic environmental testing procedures for electronic components and electronic equipment - Part 2: Tests - Test J: Mould growth; Amendment 1 Mehr |
| IEC 60068-2-11 | 1964-01 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren - Teil 2: Prüfungen - Prüfung Ka: Salznebel Mehr |
