NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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Norm [AKTUELL]

IEC 60749 AMD 1
Halbleiterbauelemente; Mechanische und klimatische Prüfverfahren; Änderung 1

Titel (englisch)

Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; amendment 1

Ausgabe 1991-11

Originalsprache Englisch , Französisch

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