NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61753-143-2 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60793-1-21 | 2001-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-21: Messmethoden und Prüfverfahren; Beschichtungsgeometrie Mehr |
| IEC 60793-1-22 | 2001-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-22: Messmethoden und Prüfverfahren; Längenmessung Mehr |
| IEC 60793-1-30 | 2010-05 | Lichtwellenleiter - Messmethoden und Prüfverfahren - Teil 1-30: Nachweis von Fehlern in Fasern Mehr |
| IEC 60793-1-41 | 2010-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-41: Messmethoden und Prüfverfahren - Bandbreite Mehr |
| IEC 60793-1-42 | 2013-01 | Lichtwellenleiter - Teil 1-42: Messmethoden und Prüfverfahren - Chromatische Dispersion Mehr |
| IEC 60793-1-44 | 2011-04 | Lichtwellenleiter - Messmethoden und Prüfverfahren - Teil 1-44: Grenzwellenlänge Mehr |
| IEC 60793-1-46 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-46: Messmethoden und Prüfverfahren; Überwachung der optischen Übertragungsänderungen Mehr |
| IEC 61300-2-11 | 2012-11 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2-11: Prüfungen - Axialer Druck Mehr |
| IEC 61300-2-12 | 2009-07 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2-12: Prüfungen - Schlag Mehr |
| IEC 61300-2-12 Corrigendum 1 | 2011-06 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2-12: Prüfungen - Schlag; Berichtigung 1 Mehr |
