NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN IEC 60747-11 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60147-2B | 1970 | Wesentliche Grenzwerte und Kennwerte von Halbleiterbauelementen und allgemeine Grundsätze für Meßverfahren; Teil 2: Allgemeine Grundlagen für Meßverfahren; 2. Ergänzung Mehr |
| IEC 60147-2C | 1970 | Wesentliche Grenzwerte und Kennwerte von Halbleiterbauelementen und allgemeine Grundsätze für Meßverfahren; Teil 2: Allgemeine Grundlagen für Meßverfahren; 3. Ergänzung Mehr |
| IEC 60147-2M | 1980 | Wesentliche Grenzwerte und Kennwerte von Halbleiterbauelementen und allgemeine Grundsätze für Meßverfahren; Teil 2: Allgemeine Grundlagen für Meßverfahren; 12. Ergänzung Mehr |
| IEC 60747-2 | 1983 | Halbleiterbauelemente - Diskrete Bauelemente und integrierte Schaltkreise; Teil 2: Gleichrichterdioden Mehr |
| IEC 60747-3 | 1985 | Halbleiterbauelemente - Diskrete Bauelemente und integrierte Schaltkreise; Teil 3: Signal- (einschließlich Schalt-) und Stabilisatordioden Mehr |
| IEC 60747-6 | 1983 | Halbleiterbauelemente - Diskrete Bauelemente und integrierte Schaltkreise; Teil 6: Thyristoren Mehr |
| IEC 60747-8 | 1984 | Halbleiterbauelemente - Diskrete Bauelemente und integrierte Schaltkreise; Teil 8: Feldeffekt-Transistoren Mehr |
| IEC 60749 | 1984 | Halbleiterbauelemente - Mechanische und Klimaprüfungen Mehr |
