NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 60512-26-100 ; VDE 0687-512-26-100:2011-12 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| DIN EN 60603-7-5 ; VDE 0687-603-7-5:2011-03 | 2011-03 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Teil 7-5: Bauartspezifikation für geschirmte freie und feste Steckverbinder, 8polig, für Datenübertragungen bis 250 MHz (IEC 60603-7-5:2010); Deutsche Fassung EN 60603-7-5:2010 Mehr |
| DIN EN 61169-16 | 2007-10 | Hochfrequenz-Steckverbinder - Teil 16: Rahmenspezifikation - Koaxiale Hochfrequenzsteckverbinder mit 7 mm (0,276 in) Innendurchmesser des Außenleiters und Schraubverbindung - Wellenwiderstand 50 Ohm (75 Ohm) (Typ N) (IEC 61169-16:2006); Deutsche Fassung EN 61169-16:2007 Mehr |
| IEC 60050-581 | 2008-09 | Internationales Elektrotechnisches Wörterbuch - Teil 581: Elektromechanische Bauteile für elektronische Geräte Mehr |
| IEC 60068-1 | 1988 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 1: Allgemeines und Richtlinien Mehr |
| IEC 60512-25-1 | 2001-07 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-1: Prüfung 25a; Übersprechen Mehr |
| IEC 60512-25-2 | 2002-03 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-2: Prüfung 25b: Dämpfung (Einfügedämpfung) Mehr |
| IEC 60512-25-3 | 2001-07 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c; Veränderung der Anstiegszeit Mehr |
| IEC 60512-25-4 | 2001-07 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-4: Prüfung 25d; Laufzeitverzögerung Mehr |
| IEC 60512-25-5 | 2004-07 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-5: Prüfung 25e: Rückflussdämpfung Mehr |
| IEC 60512-25-6 | 2004-05 | Prüfverfahren - Teil 25-6: Prüfung 25f - Augendiagramm und Jitter Mehr |
